简介:目的金属烤瓷全冠与天然牙具有不同的光谱反射曲线,当光源改变后,同色异谱效应的存在可能破坏二者的颜色匹配。本实验对A2色天然牙和采用两种品牌A2色饰面瓷的金属烤瓷全冠在4种不同光源下的颜色参数进行测量.分析二者在不同光源下的颜色变化。比较其光谱反射曲线.同时通过计算分析二者的同色异谱效应。方法采用PR-650光谱扫描色度仪对A2色天然牙和两种品牌A2色金属烤瓷全冠在D65光源、A光源、CWF光源和紫外光(UV)下的颜色参数L^*、a^*、b^*(国际发光照明委员会1976L^*a^*b^*系统)和三刺激值X、Y、Z(国际发光照明委员会1931XYZ系统)进行测量,比较其光谱反射曲线.同时通过计算特殊同色异谱指数来分析二者的同色异谱效应。结果A2色天然牙和金属烤瓷全冠的L^*、a^*、b^*值随着光源的改变而改变,二者的变化趋势不完全一致.方差分析和SNK法两两检验显示差异有统计学意义:天然牙和金属烤瓷全冠之间.不同品牌的金属烤瓷全冠之间的光谱反射曲线形状有较大区别,但是每条曲线都有三个以上的交叉点和重合处,在特定光源下可以达到同色,具有同色异谱效应;A2色天然牙与金属烤瓷全冠之间同色异谱指数在A光源下为2.53和0.95.在CWF光源下2.95和2.47,在UV光源下为3.20和5.07。结论光源对天然牙和金属烤瓷全冠的颜色有较大影响,A2色天然牙与金属烤瓷全冠之间以及不同品牌的金属烤瓷全冠之间存在较明显的同色异谱效应。
简介:目的:了解松风19色比色板对普通色牙和四环素牙选色的适合性。方法:同样使用松风19色比色板比色条件下,调查一组正常牙色的病人的烤瓷冠与对照牙的色差值,与一组四环素牙色的烤瓷冠与对照牙的色差值进行对比,分析两组烤瓷冠色彩还原性的差异。结果:同样使用松风19色比色板的情况下,正常牙色的烤瓷冠色彩还原性优于四环素牙色的烤瓷冠,经统计学分析差异有显著性意义。(P<0.0001)。结论:按照松风19色比色板比色制作的四环素牙烤瓷冠色彩还原性较差,不能满足临床需要。
简介:目的:应用改良丽春红三色法染色观察并评价3种粘结剂(SingleBond、ClearfilTMSEBond、Ad—pe—PromptTM)牙本质粘结界面。方法:选取9颗新鲜拔除的无龋坏人磨牙,用600目碳化硅砂纸在流水冲洗下预备出统一的牙本质粘结面玷污层,分别用3种粘结剂按使用说明进行粘结处理。每颗牙齿标本在流水冲洗下垂直于粘结面切割出3个10×2×2mm^3试件,包埋固定后在切片机上切取6μm厚薄片。改良丽春红三色法染色后光学显微镜下观察牙本质粘结界面。结果:应用改良丽春红三色法染色在光学显微镜下可以清晰地观察到3种粘结剂牙本质粘结界面中暴露的胶原蛋白层。结论:改良丽春红三色法染色可以应用于牙本质粘结界面的观察研究。
简介:目的探讨数字化成像系统对上颌第一磨牙近中颊根第二根管(MB2)偏移投照的最佳显示效果和拍摄方法.方法选取临床上需要进行上颌第一磨牙牙髓治疗并具有MB2根管特征的患者200例.在分角线投照法的基础上,以转动轴作标记记录水平角度,其中100例从远中至近中每偏移10°进行投照,50例使用不同的曝光时间,50例平移传感器位置进行投照.由两位医师独立阅片,判断牙根区分情况、清晰度及构图完整性.采用SPSS16.0软件包进行配对计数资料的χ2检验.结果在MB与MB2区分率中,远中偏移30°组最高,区分率为94%,显著高于正位组的10%(χ2=84,P=0.000),相同偏移角度远中偏移比近中偏移区分率更高(30°:χ2=18.382,P=0.000;20°:χ2=16.282,P=0.000;10°:χ2=14.019,P=0.000).根尖清晰度方面近中偏移比远中偏移低(30°:χ2=7.848,P=0.005;20°:χ2=12.033,P=0.001;10°:χ2=14.700,P=0.000).当近中偏移超过20°、曝光时间增加1/4时清晰率可达78%,传感器的平移摆放使牙体及根尖区的完整显示率达94%.结论要获得良好的MB2显示效果,X线中心线向远中偏移为首选,若选择向近中偏移则需加大偏移角度和曝光时间,传感器的正确摆放也是直接影响图像质量的关键.
简介:目的通过比较二硅酸锂双层瓷试件剖面影像学形貌与相应显微CT扫描成像和三维重建结果,分析显微CT与三维重建技术用于无损探测二硅酸锂双层瓷材料内部缺陷的可靠性。方法制作双层二硅酸锂双层瓷矩形试件,进行显微CT扫描;扫描后沿垂直于试件长轴将试件平均切成6段,对每段剖面进行光学显微镜观察并获取5个剖面图像。根据剖面位置确定显微CT扫描断层图像,并将显微镜图像与显微CT图像进行灰度差值匹配比对,分析显微CT对全瓷材料内部缺陷探测的可靠性与精确性。对CT扫描结果进行三维重建,比较二硅酸锂双层瓷试件内部缺陷的二维形貌与三维形貌的差异。结果显微镜图像与显微CT图像的平均相似度为(83±7.9)%;缺陷的二维剖面形貌与三维形貌存在较大差异。结论显微CT能够可靠地无损探测二硅酸锂双层瓷材料的内部缺陷结构,但对尺寸接近探测分辨率的孔洞成像较模糊。三维重建分析较二维形貌观察能更全面地反映缺陷的形貌。