简介：摘要：集成电路测试，实则对集成电路或是整个模块作出测量，将输出回应对比我们的预期输出，从而判断元器件的性能优劣及其功能。目前，已成为检验设计、生产控制、分析失效的可靠手段。本文介绍了测试的基本原理、过程，阐述了成算法的具体性能，最后展望今后的发展走向。
集成电路测试生成算法研究
