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《中国电气工程学报》
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2024年3期
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集成电路测试生成算法研究
集成电路测试生成算法研究
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摘要
摘要:集成电路测试,实则对集成电路或是整个模块作出测量,将输出回应对比我们的预期输出,从而判断元器件的性能优劣及其功能。目前,已成为检验设计、生产控制、分析失效的可靠手段。本文介绍了测试的基本原理、过程,阐述了成算法的具体性能,最后展望今后的发展走向。
DOI
n49ew6n67d/8147259
作者
蒋焕
机构地区
身份证号:330681198302205495 浙江 杭州 310018
出处
《中国电气工程学报》
2024年3期
关键词
集成电路
测试
生成算法
分类
[文化科学][]
出版日期
2024年04月10日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
中国电气工程学报
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