简介：通过实验证实在一定的含量范围内,用与海砂成份相类似的一个石英砂标样进行基体校正和归一化处理,可用现有的硅酸盐测定程序测定玻璃工业上用的海砂中的硅、铝和铁。其结果的精密度和准确度可与化学法媲美。
简介：本方法采用硝酸，氢氟酸溶解试样，高氯酸冒烟赶氟，盐酸（1＋1）溶解盐类，用ICP-OES同时测定硅铝钡中铝、钡。通过多次试验确定仪器的最佳工作条件，并对影响测定的主要参数进行研究，本方法对试样中铝、钡的检测结果令人满意，相对标准偏差RSD均小于1．6％。
简介：本文对钛厂回收副产物高纯四氯化硅中的9种金属杂质进行了测定。采用密封针管取样，转移塑料挥气瓶中，恒温水浴锅控制温度（57℃）通入干燥惰性气体（N2），在塑料挥气瓶挥去基体四氯化硅，富集的金属加入硝酸转变成溶液后定容，用电感耦合等离子质谱法（ICP-MS）直接测定其中Pb、Zn、Mn等9种微量金属杂质。用Rh做内标元素补偿基体效应和灵敏度漂移。样品的加标回收率为98．15-102．0％，相对标准偏差（RSD）为0．9％-3．5％，检出限为0．009-0．051μg／L。
简介：采用XRF靶线标准法测定了黄金饰品中银的含量。当银含量小于1.0%时,测定的标准偏差小于0.01%,测定值与标准值的偏差亦小于0.01%,当银含量在1%至8%时,测定的标准偏差小于0.04%,测定值与标准值的偏差小于0.07%。本法能较好地补偿了表面形状对测定结果的影响。本法适用Au含量大于92%的饰品。
XRFA法测定玻璃工业用海砂中硅、铝和铁
ICP-OES法同时测定硅铝钡合金中铝、钡
改进的挥硅-ICP-MS法测定高纯四氯化硅中金属杂质
XRF靶线标准法测定金首饰中的银
