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测量电路中的共地干扰问题

作者：钱柏年
学科：电子电信 > 微电子学与固体电子学
创建时间：2017-03-13
出处：《中国集成电路》 2017年第3期

简介：结合产品开发中的实际案例，分析了测试测量电路中的共地干扰的常见现象，产生原因，以及在电路设计和PCB布线中如何避免和解决此类问题的一些思路。为此类问题的研究，尤其是实际的产品开发，提供一些借鉴。
标签：共地干扰

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集成电路发明60年,同频共振新时代——新时期中国集成电路产业发展战略论坛暨《集成电路产业全书》首发式胜利召开

作者：邓亚威
学科：电子电信 > 微电子学与固体电子学
创建时间：2018-10-20
出处：《中国集成电路》 2018年第10期

简介：在适应我国集成电路产业的快速发展,让企业界、投资界、教育界及时、详尽地了解世界和我国集成电路技术和产业的发展进程的科技工作者强烈需要的大背景下,2015年,在多名专家的支持下,由王阳元院士提出了撰写《集成电路产业全书》（《全书》）的动议,在468位撰稿人、125位审稿人的共同努力下,经过三年的不懈努力。
标签：集成电路产业同频共振发明发式论坛中国

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