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《现代表面贴装资讯》
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BGA空洞形成的原因及可接受标准
BGA空洞形成的原因及可接受标准
(整期优先)网络出版时间:2008-05-15
作者:
王文利
电子电信
>物理电子学
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资料简介
BGA空洞是BGA组装过程常见的工艺缺陷,本文系统介绍了BGA空洞形成的原因与主要影响因素,讨论了BGA空洞的可接受标准,提出了消除及减少空洞缺陷的主要措施。
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BGA空洞是BGA组装过程常见的工艺缺陷,本文系统介绍了BGA空洞形成的原因与主要影响因素,讨论了BGA空洞的可接受标准,提出了消除及减少空洞缺陷的主要措施。
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