DAFS研究NiFe/Cu多层膜结构

在线阅读 下载PDF 导出详情
摘要 本文首次利用异常衍射精细结构谱(DAFS)分析技术对多层膜中的NiFe和Cu的精细结构进行了分析。从DAFS谱中,我们提取出Ni和Cu的精细结构谱,从而可以单独研究多层膜中NiFe和Cu的精细结构。与荧光EXAFS谱的比较表明,两种方法得到的谱线完全一致。该技术为研究超薄多层膜的精细结构提供一种强有力的工具。
机构地区 不详
出版日期 1998年01月11日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
  • 相关文献