简介:【摘要】本文介绍了一种基于电科思仪的矢量网络分析仪和噪声系数分析仪对低噪声放大器芯片测试的解决方案。 关键词:低噪声放大器;芯片测试。 引言 随着科学技术的发展,硬件电路的高集成对微波芯片测量解决方案提出了更高的要求。晶圆上测试设备广泛应用于低噪放芯片的设计、生产、检查和应用。本文介绍了Ceyear 3986系列噪声系数分析仪(NFA)和Ceyear 3672系列矢量网络分析仪(VNA)的芯片测试解决方案,以实现对低噪放的驻波,插损,噪声系数和增益的测量。 大功率测试方案 开机预热机器,分别给VNA和NFA设置测试频率,扫描点数,S21测量轨迹。 NFA连接噪声源进行校准;VNA进行SOLT校准。 VNA的稳幅稳相电缆连接探针,在探针台上用晶圆校准套件做直通校准。 图1 芯片直通校准 NFA校准后,因为连接了探针,所以在噪声源和被测件之间(称被测件前),以及被测件和NFA之间(称被测件后)存在损耗,因此测量过程之间必须进行损耗补偿,以消除损耗的影响。这时就需要用到VNA去测量电缆和探针组合的S21,然后使用标准二分法:-| S21 | / 2,计算出补偿损耗值,这就需要一对稳幅稳相电缆和芯片探针的一致性较好。
简介:AnalogDevices,Inc.(纽约证券交易所代码:ADI),全球领先的高性能信号处理解决方案供应商,最新推出一款低噪声运算放大器ADA4898,扩展了其产品系列。继ADA4899和AD8099运算放大器的成功推出之后,ADA4898为设计人员提供了一种独特的适用于高精度应用的低失真、低噪声和高速的集成方案。ADA4898可与ADI公司的精密数据转换器(包括AD7631和AD7634)协同工作,特别适用于基于雷达的汽车防碰撞系统、医疗仪器以及其他的16-bit和18-bit精密仪器仪表应用。