简介：O484.52001053428光谱法求解极化聚合物薄膜的光电系数=Calcldationofelectro-coefficientsofpoledpolymerfilmsusingspectralmethod[刊,中]/孟凡青,马常宝,张光辉,吕孟凯,袁多荣,房昌水,许东(山东大学晶体材料国家重点实验室.山东,济南(250100)),任诠(山东大学光电子信息与工程系。山东,济南(250100))//半导体光电.—2000,21(6).—402-404,409

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简介：O484.5//TN304.0552002042890常规与纳米金刚石薄膜介电性能的比较=Comparisonofdielectricpropertiesbetweenconventionalandnanocrystallinediamondfilms[刊,中]/奚正蕾,莘海维,张志明,凌行,沈荷生,戴永兵,万永中,陆鸣(上海交通大学微电子技术研究所.上海(200030))∥微细加工技术.—2001,(4).—50-55

简介：TH70396021316激光圆偏振镜相移参数的测量=PhaseretardationmeasurementofCO2lasercircularpolarizer[刊,中]/周凤晴,李晓平,陈清明（华中理工大学激光技术国家重点实验室。湖北,武汉（430047））∥激光技术。—1995,19（4）。—193—196CO2激光圆偏振镜是CO2激光器在工业加工中的重要光学元件,本文描述一种测量这种光学元件相

简介：O484.52003021238硅(001)衬底上生长的ZnO薄膜的AFM研究=AFMstudyofZnOthinfilmsonSi(001)substrates[刊,中]/章建隽(浙江大学信息科学与电子工程系.浙江,杭州(310028)),杨爱龄//电子显微学报.—2002,21(1).—39-42对采用电子束反应蒸镀方法低温下在硅(001)衬底上外延生长的ZnO薄膜的表面构像进行了原子力显微镜(AFM)观察,分析研究了不同的衬底温度对薄膜表面形貌及结构特性的影响。在250℃衬底温度下获得的ZnO

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简介：数的开方单元目标测试（４０分钟完成，满分１００分）一、简�

简介：TN252005021226光纤光栅在传感应用中波长漂移的检测方案=Detectionmethodsofwavelengthshiftinopticalfibergratingssens-ingapplication[刊,中]／王小凤(西安石油大学光纤传感实验室.陕西,西安(710065)),乔学光…//光电子技术与信息.-2004,17(5)．-49-53波长漂移量的检测是实现光纤光栅传感网络的关键技术。分类阐述了近几年来光纤光栅传感应用中主要的

简介：TB922002032253基于线阵CCD阵列的在线检测方法=New3DsurfacemeasurementonlinebasedonlinearCCDarrays[刊,中]/周鸿,赵宏(西安交通大学机械学院激光与红外应用所.陕西,西安(710049))//半导体技术.-2001,26(11).-1-4利用矩形光栅离焦投影,产生正弦光场,通过三个严格排列的线阵CCD阵列对物体三维轮廓进行扫描采样测量,一次扫描就可以获得三幅相位图。重点讨论了该方法的原理和特点,并给出试验简图及实际测量结果。图8(李瑞琴)

简介：TB812.52002010504胶片分析系统形成色偏原因分析及校正方法=Analysisonreasonsofcolorcastforminginafilmanalyzingsystemandcalibrationmethod[刊,中]/王雪晶,郝志航(中科院长春光机所.吉林,长春(130022))∥光电工程.—2000,27(6).—17-20

简介：由于同步装置工作时有脉冲高电压、大电流输出，产生的电磁环境十分复杂和恶劣，对周围的组件及测试系统产生较严重的影响，在台面联试、半总装联试及总装联试等不同状态下，经常出现由于干扰问题，影响程控等装置正常工作，使系统联试工作无法正常进行，严重时还会造成程控等装置损坏。因此，需要测量高压脉冲大电流在环境中的辐射频谱和幅度，为系统中其他组件的电磁兼容设计提供技术依据。

简介：O644.162000031974卟啉与吩噻嗪分子间和分子内的光致相互作用=Pho-toinducedintermolecularandintramolecularinteractionsbetweenphenothiazineandporphyrin[刊,中]/贺学忠(清华大学生物科学与技术系.北京(100084)),周亚琳,张曼华,沈涛(中科院感光化学研究所.北京(100101))//高等学校化学学报.—1999,20

简介：一、选择题１设Ｍ、Ｐ是两个非空集合，定义Ｍ与Ｐ的差集为Ｍ－Ｐ＝｛ｘ｜ｘ∈Ｍ且ｘＰ｝，则Ｍ－（Ｍ－Ｐ）等于（）．（Ａ）Ｐ（Ｂ）Ｍ∩Ｐ（Ｃ）Ｍ∪Ｐ（Ｄ）Ｍ２函数ｙ＝ｌｏｇ（２ｘ－１）３ｘ－２的定义域为（）．（Ａ）（２３，＋∞）（Ｂ）（１２，＋∞）（...

简介：本文叙述有关加速度、角速度多测量轴任意方位捷联组合（冗余状态）的数学模型、测试编排、自检方案及故障检测的研究结果。

简介：TB842003053774耐水性丝网印刷感光高分子性能研究=Researchonpropertiesofwaterresistantphotosensitivepolymerforscreenprinting[刊,中]/黄毓礼(北京化工大学材料科学与工程学院.北京(100029)),王淑芳…//高分子材料科学与工

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简介：因式分解单元目标测试（４０分钟完成，满分１００分）一、填空：（每小题５分，共４５分）１、把一个多项式化为几个整式的的形式，叫做把这个多项式因式分解。２、把一个多项式分解因式时，如果多项式的各项有公因式时，那么先。３、利用公式分解填空：（１）ｍ４－（）...

简介：TB8896042600底片缺陷分析及鉴别仪器=Analysisofphotographicfilmdefectsanditsdiscriminators[刊,中]/周宏(国家照相机质量监督检验中心)∥照相机.—1995,(10).—23—25对各种一般的及特殊的情况提出底片的缺陷,并简要分析底片缺陷产生的原因,用表格形式将各种缺陷归类,并确定它属于何种类型的缺陷,以便查阅。由于肉眼直接观察来分析底片缺陷已不能满足摄影及