简介:摘要研究了光刻机曝光过程中,热效应引起焦平面发生漂移的原因,并对热效应过程进行分析,通过光照时间与冷却时间的关系对应焦平面漂移关系,及时进行焦平面补偿,以及对成像系统进行温度控制,可对焦平面漂移进行有效控制
简介:先进节点逻辑集成电路制造是当前工业界的领先工艺。为实现接触(Contact)层的光刻工艺,需要从两个关键方面进行处理:解析度和全间距的共有工艺窗口。离轴照明+相移掩模+亚解析度辅助图形多种解析度增强技术的组合使用是解决光刻成像的方法。从优化接触层离轴照明的类型方面解决光刻制造工艺的问题。
光照对光刻机焦平面漂移影响的研究
先进节点接触层照明类型优化解决光刻制造要求