简介：

简介：摘要：半导体产业的迅速发展对芯片测试系统及其直线工作台提出了更高的要求，其性能直接影响测试数据的准确性。本文介绍了芯片测试系统直线工作台的结构组成，利用有限元软件ANSYS对直线工作台的关键部件滚珠丝杠进行了模态分析，为芯片测试系统直线工作台的结构优化设计和动态性能研究提供了重要的参考数据和方法。

简介：摘要：数字交换芯片是程控数字交换机中的关键性器件，主要实现数字交换的功能。但是我国数字交换芯片主要依赖于国外进口，随着时间的推移，可能会面临国外厂家停产或停供的风险，随着国内用户需求的改变也会要求技术指标变化，依靠从国外进口难以及时满足国内需求。因此，研究一种满足国内需求的数字交换芯片，实现数字交换芯片的自主可控很有必要。

简介：摘要：近年来，社会进步迅速，随着网络技术和嵌入式技术的迅猛发展，嵌入式系统已成为继 PC 和 Internet 之后，IT 界新的技术热点。利用嵌入式技术实现远程监控和视频数据传输已经得到了广泛的应用，为了实现这些应用，数据传输是很重要的环节。为了减轻数字逻辑电路数据处理的压力和便于数据交换，会用到很多起承上启下枢纽作用的芯片，而与这些芯片进行连接的接口技术大多是采用 SPI 接口技术。在很多高档单片机中，高效率高速的 SPI 串行接口技术作为一种标准配置，已经应用于数据交换和扩展外设。在嵌入式数据传输中，对于波特率、数据格式等有着严格限制的工业控制中，通用串口不再适用，必须对串口进行重新开发。

简介：摘要：直调激光器芯片的带宽、相位、群时延等频域参数是衡量直调激光器芯片性能的重要评价指标，鉴于其重要性，研究了直调激光器芯片频域参数测试方法，设计了一种基于光波元件分析仪的直调激光器芯片频域参数测试系统，并利用仪器提供的SCPI指令集，实现了直调激光器芯片的自动化测试。在10MHz~26.5GHz范围内对直调激光器芯片的频域参数进行了测试，实验结果表明，该方法测量结果与出厂数据一致性较好，是一种高效高精度的直调激光器芯片频域参数测试方法。

简介：摘要:本文的核心在于探讨如何设计并应用自动化测试平台来进行芯片温度测试对性能的影响分析。我们深入探讨了芯片温度对性能的影响，这是为了引发读者对于该问题的关注和认识。接着，我们详细阐述了设计自动化测试平台的关键步骤与方法，包括系统架构、传感器选择、数据采集等方面，以期为读者提供可行的解决方案。最后，通过对该平台的应用进行分析，我们展示了其在芯片温度测试中的有效性，这不仅验证了我们的设计理念，也为芯片性能评估提供了一种新的、更加高效的方法。通过本文的阐述，读者将能够更加深入地理解芯片温度测试的重要性，以及如何利用自动化测试平台进行更加准确、可靠的性能分析。

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简介：摘要：本文分析了芯片温度测试对性能的影响。通过实验数据和理论分析，我们确定了芯片温度对性能的直接关联性。我们讨论了不同温度下芯片性能的变化趋势，并提出了针对性能优化的策略。最后，我们总结了芯片温度测试对性能影响的重要性，并展望了未来的研究方向。

简介：摘要：本文设计了一种新的测试芯片测试装置，通过更简单的结构就实现对芯片多个位置的功能检测。本设计在于提供一种通过一个电机驱动蜗轮蜗杆，再带动单凸轮轴实现多个运动的测试装置，以解决现有技术中测试芯片的测试装置内部机构复杂，体积大费用高的问题。

简介：<正>英特尔日前宣布,公司研制出采用65nm技术的试验性芯片,并预计在2005年将成为首家生产这种芯片的厂商。目前广泛应用的芯片为130nm;而90nm芯片则预计明年初量产。英特尔称,其静态随机存取内存测试芯片上的晶体管极小,在仅一平方毫米的面积上,

简介：ARM公司近日在IEEESOI会议上发布了一款绝缘体上硅(SOI)45纳米测试芯片的测试结果。测试结果表明,相较于采用传统的体效应工艺(bulk

简介：     摘要：当今，集成电路的电磁兼容性越来越受到重视，芯片电磁兼容(EMC)技术关乎整机电子系统及其周围电子器件的运行的安全可靠性，电磁兼容性。电子设备和系统的生产商努力改进他们的产品以满足电磁兼容规范，降低电磁发射和增强抗干扰能力, 集成电路（IC）的电磁兼容性（EMC）的测试方法正受到越来越多的关注,文章基于国内外资料调研和课题组的研究成果, 介绍了器件级(IC)EMC测试方面的发展现状，测试标准， 详细介绍了器件级(IC)主要的电磁兼容测试方法。

简介：摘要：集成电路芯片设计制造，是目前国内电子设备和通信技术领域的热门话题，市场需求旺盛。在集成电路测试中引入射频测试技术，有助于射频集成电路实现产品优质化和工艺自动化建设，！确保射频集成电路高效准确测试的同时，还能节约大量作业成本，因此得到普遍欢迎。本文概括论述射频测试技术，功能和发展前景，详细介绍这项技术的作用原理，对射频测试技术进行全面分析，力求为射频集成电路测试提供更加优质的技术应用，促进电子设备和通信技术行业实现更快发展。

简介：摘要：集成电路芯片设计制造，是目前国内电子设备和通信技术领域的热门话题，市场需求旺盛。在集成电路测试中引入射频测试技术，有助于射频集成电路实现产品优质化和工艺自动化建设，！确保射频集成电路高效准确测试的同时，还能节约大量作业成本，因此得到普遍欢迎。本文概括论述射频测试技术，功能和发展前景，详细介绍这项技术的作用原理，对射频测试技术进行全面分析，力求为射频集成电路测试提供更加优质的技术应用，促进电子设备和通信技术行业实现更快发展。

简介：摘要：本文针对集成电路芯片的成品测试方案进行了研究。首先，分析了集成电路芯片测试与质量控制的重要性，介绍了现有的测试方法与技术，以及面临的挑战与需求。然后，重点关注了成品测试方案的设计与优化，包括测试流程分析、测试环境准备、测试设备与工具选择、以及测试流程规划等。接着，着重讨论了成品测试方案设计的关键要点，包括测试策略与覆盖率、故障模型与测试用例设计，以及测试数据分析与处理。最后，通过综合应用以上内容，展示了如何确保成品测试方案的有效性和可靠性，为集成电路芯片的质量控制提供支持。

简介：摘要：随着半导体集成电路生产规模越来越大，过程控制变的非常重要．作为工艺过程监控的PCM系统的自动化程度越来越高，但是在测试中仍然有很多的细节问题需要重视，否则就会得出谬误的数据，误导工艺人员，造成不必要的产品报废．文中通过对PCM测试中一些具体问题的分析，探索研究测试中一些容易忽略的细节。

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简介：英特尔北欧地区总经理帕特·布莱默（PatBliemer）近日表示，其14纳米制程工艺芯片已经完成设计，进入实验室测试。

简介：摘要：运用科技管理思维针对芯片阻抗测试项目进行分析和优化，达到降低研发成本，提高科技创新效率。本文基于科技管理的角度分析芯片阻抗测试项目过程控制和组织对效率和成本影响。

简介：摘要：中频预处理是雷达信号处理超外差接收机体制中常用数据处理模式，对于雷达应用中，中频预处理芯片完成对于雷达信号发射与接收的中频预处理，在系统中独立完成宽带数字信号的波形产生、接收波形的数字滤波处理及数字信号的上传和下发等关键信号的复杂预处理过程。