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205 个结果
  • 简介:对InPDHBT进行了钴源辐射试验,研究了InPDHBT在不同偏置条件下的电离总剂量效应.使用KeysightB1500半导体参数分析仪,测试了InPDHBT的Gummel和输出I-V参数,分析了辐射敏感参数在辐射过程中的变化规律,研究了器件功能失效和参数退化的原因.研究表明:将InPDHBT置于不同的偏置条件下,产生数量不同的氧化物陷阱电荷和界面态陷阱电荷,导致器件的功能失效阈值也不同.

  • 标签: INP DHBT 总剂量辐射 偏置 退火效应 ^60Coγ
  • 简介:1隧道效应详谬经典理论认为,动能低于势能的粒子不能穿过垫垒,而根据量子理论,由于隧道效应粒子有一定的概率穿过垫垒。其现象及理论计算的结果是肯定的,这是纯粹的量子效应。所谓隧道效应佯谬,是指进入势垒内部经典禁区的粒子似乎处于动能小于零的状态,这实际上是...

  • 标签: 不确定关系 隧道效应 力学量 量子系统 不确定性 量子力学基本原理
  • 简介:通过建立一个典型的金/硅界面结构模型,对X射线入射界面时的剂量增强效应进行了研究。采用MonteCarlo方法计算了不同能量X射线入射金/硅界面的输运过程。其中,对X射线产生的次级电子在介质中的输运,采用了单次碰撞直接模拟方法;对电子的弹性散射截面和非弹性散射截面,分别采用Mott微分截面和Born近似下的广义振子强度模型计算得到。研究计算了不同能量X射线入射下,金/硅界面的剂量增强系数及特定X射线能量下剂量增强系数随金厚度的变化规律。结果表明:X射线能量为几十至几百keV时,剂量增强效应最明显,最大剂量增强系数对应的X射线能量随距金/硅界面的距离增加而增加;金的厚度影响界面附近剂量增强效果,当X射线能量不变时,剂量增强系数随金的厚度增加而增加,并趋于饱和值。

  • 标签: MONTE CARLO模拟 X射线 低能电子 剂量增强系数
  • 简介:采用多陷阱的理论方法,模拟了不同剂量率辐照下MOS电容的总剂量效应,分析了氧化层空间电荷场效应与辐照剂量率的关系.研究了氧化层中浅能级陷阱、深能级陷阱对界面俘获电荷和半带电压的影响.研究结果表明,相对于高剂量率辐照,低剂量率在Si/SiO2界面附近俘获更多的空穴,导致产生更大的半带电压漂移;空间电荷场效应是由高、低剂量率辐射损伤差异造成的;浅能级陷阱俘获的空穴主要支配着氧化层电荷的传输特征,被深能级陷阱俘获的空穴是永久性的,是引起器件半带电压漂移的主要原因.

  • 标签: 半带电压漂移 低剂量率辐射损伤增强 MOS电容 总剂量
  • 简介:在分析SRAM型FPGA单元电路及芯片辐照效应实验数据的基础上,借助计算机仿真模拟,研究了大规模集成电路抗辐射性能的敏感性预测技术。采用分层仿真和评价的方法,先由上而下,根据器件参数要求分配性能指标,再依据实验数据,借助数值模拟,由下而上检验性能阈值、裕量及其不确定度,最终给出整个FPGA的可信度值,确定了敏感单元电路,并且通过X射线微束总剂量实验对结果进行验证。建立的电路级数值模拟方法为累积电离总剂量效应敏感性预测研究,提供了技术支撑。

  • 标签: 电子器件 总剂量效应 试验技术 电路模拟 敏感性预测
  • 简介:目前,随着相关项目研究的不断推进,如何在高Reynolds数下研究其对气动光学效应的影响成为重要命题.通过设计变Reynolds数气动光学效应实验平台,模拟的单位Reynolds数可以在7.2×10^6-2.2×10^8m^-1范围内变化.搭建的基于背景纹影(backgroundorientedschlieren,BOS)的波前测试系统可以达到6ns的时间分辨率.此系统测量的平凸透镜波前结果表明:实验测量结果与理论计算结果的误差在±4%以内.通过测量9种不同Reynolds数下的超声速气膜瞬态波前数据,分析结果表明:在高Reynolds数条件下,Reynolds数对于超声速气膜气动光学效应的影响比较明显,通过对实验数据进行函数拟合发现OPDrmsRe088,与推导结果OPDrmsRe09十分接近;利用小波分析方法研究了高Reynolds数条件下气动光学效应沿流向的分布特征,发现OPDrms的低频部分(信号的主体)先降低后升高,但是高频部分的震荡幅度先升后降.分析认为OPD的低频部分主要受到流场整体结构的影响,而高频部分更多地受到涡的空间分布影响.

  • 标签: 气动光学 超声速气膜 REYNOLDS数 背景纹影 小波分析
  • 简介:神秘气氛笼罩眼睛,在似有若无的裸妆衬托下,色彩玩味非常可爱的灵动,柔和中有点世故,率真的同时带着出位的性感。

  • 标签: 色彩 化妆品 眼影
  • 简介:O436.42001031601Ce:YIG自旋-轨道耦合对磁光效应的影响=Effectofspin-orbitinteractionstrengthontheFaradayrotationinCe-substitutedyttriumgarnet[刊,中]/杨杰慧,潘留占(河南省洛阳师范专科学校物理系.河南,洛阳(471022)),徐游(南京大学物理系.江苏,南京(210008))∥物理学报.-2000,49(4).-807-810计算了Ce:YIG中Ce3+离子自旋-轨道耦合对磁

  • 标签: 磁光效应 轨道耦合 自旋 师范专科学校 光学性质 物理系
  • 简介:动量效应和反转效应是两种重要的金融异象,质疑了有效市场假说。本文以2000—2009年的A股上市公司为研究样本,采用不同的形成期搭配不同的持有期下的投资策略考察了中国股市跨行业动量效应和反转效应。研究结论表明:在沪深A股市场,按下游行业收益率排序的零投资策略主要表现为动量效应,按上游行业收益率排序的零投资策略主要表现为反转效应。从短期来看,跨行业动量或反转效应普遍不显著。持有期中长时,结果的显著性明显提高。跨行业动量或反转效应通过CAPM、Fama—French、Carhart模型调整后仍然显著。

  • 标签: 金融学 动量效应 零投资策略 反转效应 跨行业
  • 简介:从电子在电磁场中的狄拉克方程出发,得出电子在电磁场中波函数,分析磁矢热A引起的电子概率波的相移,结果表明:影响电子波函数的相位变化不是B而是A(x),即有一个额外相因子附加在电子概率波上,进而通过量子干涉出现图样的位移。结论是A—B效应的存在说明磁场的物理效应不能完全用B描述,而是附加在电子概率波上的相因子。

  • 标签: A—B效应 相位
  • 简介:高功率微波(HPM)效应实验系统由微波辐射源、效应物和监测系统等组成。微波源产生并辐射电磁波,实验中的微波辐射源分为窄带微波源和超宽谱(UWB)源两种。实验效应物包括低噪高放、TR管、限幅器、混频器和微波组件——被动雷达探测系统RF装置等。详细介绍了这些微波器件和微波组件的基本组成、特性、工作原理和性能,同时介绍了不同效应物的实验系统、实验方法、效应现象和损伤判据。监测系统对目标状态、辐射源状态进行监视,在注入实验中对效应物的注入功率进行测量,在辐照实验中对目标附近的辐射场进行测试标定,为实验结果的分析提供数据。为避免损伤累积效应,损伤实验注入脉冲次数不超过4次。

  • 标签: 微波器件 HPM 微波辐射源 实验系统 高功率微波 雷达探测系统
  • 简介:从双缝干涉的简单理论出发,将光栅分解为许多组双缝,利用人们熟知的干涉条纹间距公式导出Talbot成像位置,结论与Talbot效应公式一致。并由实验证实,在(2m1)d2/λ(m为正整数)的位置得到的为横向平移d/2的周期像,并非原周期性物的负反差像。

  • 标签: TALBOT效应 双缝干涉 菲涅尔衍射
  • 简介:根据驻点声速的现有知识,通过数学推导,得到了声速与流速的关系计算公式,时间相对性公式和多普勒效应公式。

  • 标签: 驻点声速 时间间隔 流速
  • 简介:以Talbot效应实验为例探索研究型实验教学模式,科学设计实验,实施研究型教学方法与手段,引导学生逐步建立Talbot自成像概念,总结自成像规律。并通过课外延展掌握Talbot效应原理,由现象到本质,真正进行探究性学习。教学实践表明,该探究实验提高了学生对实验课程的兴趣,学生的自主性得到充分发挥,科学探究能力得到了训练。

  • 标签: TALBOT效应 探究实验 CMOS
  • 简介:本文介绍一种借助微机研究光电效应的实验系统,微机作为中心控制单元,完成数据采集和存储,实现大量观测数据的建模和平均.最后给出了普朗克常数的测定结果.

  • 标签: 光电效应 微机 普朗克常数 测定 物理实验
  • 简介:O436.42005031662偏振方向对ZnTe电光THz辐射探测的影响=Effectsofprobe-beampolarizationdirectiononTHzdetectioninZnTe[刊,中]/顾春明(上海交通大学物理系,凝聚态光谱与光电子物理实验室.上海(200030)),刘锐…∥红外与毫米波学报.-2004,23(5).-333-336在实验上研究了探测光的偏振方向对ZnTe晶体

  • 标签: 光学性质 物理光学 偏振方向 晶体 电光效应 物理实验室
  • 简介:在磁阻效应实验中,相对磁阻变化曲线的非线性和线性部分的拐点是人为判断的,具有较大的不确定性.本文采用循环迭代的方法,在假定拐点的情况下,精确的确定拐点,使得实验曲线的非线性部分和线性部分能够同时得到最大程度的拟合。

  • 标签: 磁阻效应实验 磁阻变化曲线 拐点的确定 曲线拟合
  • 简介:04372003010350环形斑激光束在非线性克尔介质中环半径的偏移现象=RadiusdeviatingofcirclespotlaserbeaminKerr-medium[刊,中]/苗润才(陕西师范大学物理学与信息技术学院,陕西.西安(710062)),叶青…//光子学报.-2002,31(7).-882-886对于非线性克尔介质中的环形斑调制光束,通过数值求值非线性Schr(o|¨)inger方程发现:当入射光强度超过一定值时,光束在传输过程中将发生环半径偏移现象。并对环半径偏移产生的条件、偏移的特点,以及自聚焦焦点上光强度的横向分布与环半径偏移之间的关系进行了详细的研究。图4参12(李瑞琴)

  • 标签: 级联二阶非线性 小尺度自聚焦 吸收克尔介质 环半径 环形斑激光束 偏移现象