简介:利用高分辨电感耦合等离子体质谱法测定半导体级高纯氢氟酸中的痕量金属杂质,用膜去溶进样系统直接进样检测,无需前处理、快速,避免了在样品前处理时的污染问题。高分辨电感耦合等离子体质谱法可以消除多分子离子干扰,降低检出限,提高定量准确性。方法的检出限为0.09-37.07μg/L,加标回收率为92.3%-116.8%。方法简单,结果可靠,适用于高纯氢氟酸中痕量元素的快速测定。
简介:原子、离子极化率和极化力,是计算分子性质的一些基本参数。对于离子极化率,至今仍多使用1927年鲍林计算的欠完整的数据。原子极化率的数据更缺乏,虽然近年来有人作了一些理论计算进行补充,还远不完整。极化力的表达式。尚无公认的统一公式。因此,我们在前人工作的基础上,在这方面开展了一些工作。
膜去溶进样高分辨电感耦合等离子体质谱法测定半导体级氢氟酸中杂质元素
原子、离子极化率和极化力的一般计算