简介:摘要:随着集成电路(IC)技术的快速发展,封装成为了影响其性能与可靠性的关键因素之一。本文综合研究了集成电路的封装技术及其测试技术,旨在探讨封装对IC性能的影响及封装测试的关键技术。通过对现有封装技术的分类分析,重点讨论了几种主流封装方式的特点与应用场景。同时,详细探究了封装测试的技术路线,包括测试策略、测试方法及其在确保IC质量中的作用。通过案例分析,本文提出了一套针对不同封装类型的测试优化策略,以期提高测试效率和降低成本。本研究不仅对提升IC封装技术的理解和应用有重要意义,也为封装测试技术的发展提供了理论支持和实践指导。
简介:摘要:由于BGA (Ball Grid Array球栅阵列)技术应用领域的广泛化,其BGA返修技术已被各电装企业重视。本文按照BGA元器件返修工艺流程为顺序,介绍了BGA封装器件返修技术,侧重阐述了BGA元器件返修工艺过程控制,重点论述了回流焊接温度曲线设置、BGA植球等工艺技术控制手段及工艺要求。
简介:摘要:风电机组叶片作为风力发电机的关键部件之一,直接影响着风力发电机的效率、寿命和性能。针对传统风机叶片开裂缺陷检测方法无法实现风机叶片的非接触、实时检测等不足,对基于风电机组的气动噪声实现风机叶片的开裂缺陷检测进行了可行性分析,利用某风场的两台机组的气动噪声数据进行了实测验证。实测结果表明,通过检测风机工作时产生的气动噪声变化可以定性判断叶片的损伤,无需机组停运,具有非接触、可连续检测等优点,为风机叶片的健康检测提供了可行性参考。
简介:摘要:为了适应抗辐射的要求,带钽壳的 EEROM 器件广泛地应用到航天电子产品中。给手工焊接带来难度。本文根据带钽壳的 EEROM 器件的特殊性,详细介绍了操作过程中的关键点和手工焊接技巧,有效保证了焊接的高可靠性