简介：集成电路测试是保证产品质量的重要手段，如何检测MCU类复杂大规模集成电路是测试的难点。文章以实际测试过的电路80C196KC为例，详细地介绍了“硬件学习法”生成测试码点的硬件构成和测试向量的采集方法。为实现对80C196KC丰富指令及各种寻址方式的完全测试，给出了测试指令的序列结构和数据结构。在此基础上给出了生成测试向量、测试A／D转换器及直流、交流参数的测试方法.
16位单片机测试技术研究
