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透射电镜在纳米材料
检测
中的应用
作者：
樊小军;刘衍晟;陈明霞;王鹏
学科：
一般工业技术
>
材料科学与工程
创建时间：2008-03-13
出处：
《纳米科技》
2008年第3期
简介：
介绍了适用于粉体纳米材料透射电子显微镜样品制备的方法，采用了Fonnva广碳双层膜、超声分散等方法，使粉体纳米材料粒子的外部特征得到充分显示。
标签：
透射电镜
纳米材料
样品制备
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透射电镜在纳米材料
检测
中的应用
透射电镜在纳米材料
检测
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