TN21397063897碲镉汞晶片少数载流子寿命面分布的自动测试技术=AutomaticmeasurementtechnologyfortheareadistributionoftheminoritycarrierlifetimeofHgCdTewafer[刊,中]/龚海梅,李言谨,胡晓宁,靳秀芬,宣荣伟,朱龙源,方家熊(中科院上海技术物理
中国光学
1997年6期
