简介:TQ171.652002032273玻璃结石的X射线衍射分析=AnalysisofstoneinglassbyX-raydiffractometry[刊,中]/秦麟卿,宋京红(武汉理工大学材料研究与测试中心.湖北,武汉(430070)),李国栋(襄樊大学.湖北,襄樊(441000))//分析仪器.-2001,(2).-25-26利用X射线衍射仪对玻璃中的结石进行了晶相分析,确定了玻璃结石的晶相组成,并分析了产生结石的原因。图2参3(李瑞琴)TQ171.652002032274真空镀膜玻璃的色差分析与测定方法探讨=Discussiononcolourdifferenceandmeasuringmethodof
简介:O482.3199053393Ga1-xAl-xAs外延片有源区Al组份的测定方法=MeasurablemethodofaluminiumcompositeofGa1-xAlxAsepitaxialmaterialwithinactiveregion[刊,中]/刘学彦(中科院长春物理所.吉林,长春(130021))//发光学报.—1998,19(4).—361—363利用电致发光测得Ga1-xAlxAs外延片有源区发射光谱,并通过公式计算得出有源区Al组份值。图4表1参3(常唯)O72299053394半绝缘GaAs单晶化学配比的X射线双晶衍射Bond方法测量=BondmethodmeasurementofstoichiometryinSi—GaAsbulkmaterialbydouble
简介:O43198010001一种计算量子拍讯号强度的新方法=Anewmethodforcalculatingthesignalintensityofquantumbeats[刊,中]/胡振华(武汉交通科技大学.湖北,武汉(430063))//发光学报.—1997,18(3).—195-198运用密度矩阵方程推导了V型三能级系统的荧光量子拍讯号强度,并对其结果进行了分析和讨论。参8(常唯)O43198010002偶奇qs相干态的非经典特性=Nonclassicalpropertiesofevenandoddqs-coherentstates[刊,中]/王继锁,孙长勇(聊城师范学院物理系.山东,聊城(252059)),赵铭健(临沂师范专科学校.山东,临沂
简介:O722002032276X射线驻波方法研究半导体超薄异质外延层=StudyofsemiconductorsuperthinheterostructureswithsynchrotronradiationX-raystandingwavetech-nique[刊,中]/姜晓明,贾全杰,胡天斗,黄宇营,郑文莉,何伟,冼鼎昌(中科院高能物理所.北京(100039)),施斌,蒋最敏,王迅(复旦大学应用表面物理国家重点实验室.上海(200433))//高能物理与核物理.-2001,25(6).-588-594利用双晶单色器和精密二圆衍射仪,在北京同步辐射装置建立了同步辐射X射线驻波实验技术,并用这一实验技术结合X射线衍射方法,研究了Si晶体中外延生长的超薄Ge原子层的微结构。图5参9(李瑞琴)
简介:O439705348913单元双压电晶片变形反射镜主要性能参数的测试=Measurementofsomeimportantparametersof13—segmentbimorphdeformablemirror[刊,中]/曹根瑞,杨强(北京理工大学.北京(100081))∥光学技术.—1996,(4).—25—29介绍了自适应光学用13单元双压电晶片变形反射镜原始面形。δ—V曲线、频响特性曲线、静态影响函数矩阵等几个主要性能参数的测试方法和结果。从δ—V曲线得出了电压灵敏度和非线性滞后系数,从影响函数矩阵反演出了控制电压矩阵,利用这些结果校正了变形镜的原始面形,得出了一些重要的结论。图6参