简介:摘要:随着集成电路(IC)技术的快速发展,封装成为了影响其性能与可靠性的关键因素之一。本文综合研究了集成电路的封装技术及其测试技术,旨在探讨封装对IC性能的影响及封装测试的关键技术。通过对现有封装技术的分类分析,重点讨论了几种主流封装方式的特点与应用场景。同时,详细探究了封装测试的技术路线,包括测试策略、测试方法及其在确保IC质量中的作用。通过案例分析,本文提出了一套针对不同封装类型的测试优化策略,以期提高测试效率和降低成本。本研究不仅对提升IC封装技术的理解和应用有重要意义,也为封装测试技术的发展提供了理论支持和实践指导。
简介:摘要:随着LED半导体照明行业日趋成熟的发展,尤其是白光LED封装产品的角逐已进入白热化状态,各封装龙头企业封装SMD白光LED产品目前仍沿用20年前的SMD白光封装制程工艺【蓝光晶片激发YAG(Green/Yellow)+Nitride(Red)荧光粉发出白光】,在特定封装类型下随着蓝光晶片尺寸的逐渐增大已达到物理封装的瓶颈,目前市场上SMD中功率系列封装产品,以SMD 2835封装类型,blx晶片20*xx mil,显色指数CRI≥80,色温2700K/4000K规格为例,传统封装工艺光效分别为:175lm/W[2700K/CRI80/0.5W]和182lm/W[4000K/CRI80/0.5W],达不到Erp能效等级Class B(>185lm/W)和Class A(>210lm/W)的要求,为了提升SMD中功率产品的显指和光效我们展开了系统的封装试验评估,最终研发出本案涉及之SMD中功率高显指氟化物LED产品,最大提升产品光效10%(CRI80规格),20%(CRI90规格)已投入到批量生产交货并应用于照明灯具产品市场中,领跑LED照明行业的快速发展,起到了提高能源利用率和双减的作用;
简介:摘要:由于BGA (Ball Grid Array球栅阵列)技术应用领域的广泛化,其BGA返修技术已被各电装企业重视。本文按照BGA元器件返修工艺流程为顺序,介绍了BGA封装器件返修技术,侧重阐述了BGA元器件返修工艺过程控制,重点论述了回流焊接温度曲线设置、BGA植球等工艺技术控制手段及工艺要求。