简介：在电磁波测距高程导线，四等和一、二级电磁波测距导线等常规控制测量作业中，高差计算、水平距离的参考椭球面归算以及参考椭球面边长的高斯平面改化计算均与地球曲率半径有关。通过探讨地球曲率半径取值精度对控制测量精度的影响，以满足控制测量精度要求为前提，得出地球曲率半径取值精度的统一认识。

简介：在Minkowski空间R1^3中的类空曲面上,考虑曲率椭圆和副法方向的定义及其性质,采用活动标架的方法进行局部计算和整体结构的刻画,推广并改进了欧氏空间中的已有结果。

简介：目的：探讨基牙颈缘线曲率对CAD／CAM全瓷冠及金属烤瓷冠边缘适合性的影响。方法与材料：在模型的上颌中切牙上预备3种类型的基牙（曲率1mm、3mm、5mm）。每种类型的基牙分别制作5个全瓷冠（Cerconsystem．Degudent）和5个金属烤瓷冠。采用Two—wayANOVA和Tukey—HSD检验（α=O．05）计算和分析冠边缘的适应性。结果：全瓷冠唇侧、舌侧、近中和远中的平均边缘缝隙（SD）无统计学差异．分别是：曲率为1mm的全瓷冠边缘缝隙为54（10）、51（11）、47（13）、49（9）岬；曲率为3mm的全瓷冠边缘缝隙为49（12）、53（11）、54（10）、55（12）岬：曲率为5mm的全瓷冠边缘缝隙为57（12）、54（11）、53（10）、52（9）μm。曲率为1mm的烤瓷冠唇侧、舌侧、近中和远中的平均边缘缝隙（SD）值分别是36（7）、41（9）、26（8）、28（10）邮．曲率为3mm的烤瓷冠唇侧、舌侧的平均边缘缝隙（SD）值为45{8）．48（9）μm．均显著大于近中（P=O．01和0007）和远中（P=0．03和0．02）的边缘缝隙。曲率为5mm的烤瓷冠唇侧、舌侧平均边缘缝隙（SD）值为76（10）、74（15）μm．均显著大于近中（P=O001和0．001）和远中（P=0．001和0001）的边缘缝隙。结论：基牙的颈缘线曲率对全瓷冠的边缘适合性无显著影响．但对烤瓷冠的边缘适合性有显著影响。