简介:采用熔融片制样用X射线荧光光谱法对陶瓷、色料和釉物料中Na,Mg,A1,Si,P,S,K,Ca,Ti,Mn,Fe,Ba,Zr,Zn,Hf15种元素进行了测定,用理论α系数校正基体效应.方法简便、快速、分析结果的准确度完全能满足上述物料分析的要求.还用纯化学试剂和标准样品按一定比例混合制备标准样品,弥补了色料和釉缺少标准或没有标样的困难.又对Zr和Hf元素分析线进行了选择,用ZrLα和HfLβ1作为分析线,而不采用ZrKα,不仅使制备的熔片达到ZrLα线的饱和厚度,使分析结果的准确度和重现性好,而且还消除了ZrKα的谱线对HfLβ1分析线的干扰.
简介:2013年4月19日,中国科学仪器行业最高级别的峰会——"2013中国科学仪器发展年会(ACCSI2013)"在京召开。该会由中国仪器仪表行业协会、中国仪器仪表学会分析仪器分会、仪器信息网(www.instrument.com.cn)联合主办,我要测(www.woyaoce.cn)协办。ACCSI2013特别邀请了中国仪器仪表行业协会秘书长闫增序、中国工程院院士庄松林、北京航空材料研究院航空材料检测研究中心主任陶春虎、仪器信息网高级顾问刘文玉等业内知名专家对2012年度科学仪器的政策、技术、产业和市场发展状况展开深入分析,并对2013年的发展进行预测及展望。800余位业界专家学者、实验室负责人、仪器企业负责人、相关政府部门及相关学会协会领导和投资机构负责人等嘉宾出席了会议,40余家国内外权威媒体参与报道。