学科分类
/ 4
69 个结果
  • 简介:分析了X射线辐照电缆的物理过程,建立了基于有限元方法的二维诺顿等效电流源计算模型,将泊松方程、电场强度、电荷守恒方程等求解过程转换为矩阵和向量运算,并利用PETSc程序包编程计算,模拟了辐射感应电导率和间隙效应对屏蔽电缆X射线辐照响应的影响。结果显示,仅考虑辐射感应电导率效应时,随着X射线注量的增加,诺顿等效电流源逐渐趋于饱和,波形宽度变窄,并逐渐变为双极性波形。仅考虑间隙效应时,诺顿等效电流源幅度与间隙宽度近似成正比;间隙效应会大幅抵消辐射感应电导率效应的影响,诺顿等效电流源幅度仍近似正比于间隙宽度。该方法实现了电缆X射线辐照非线性效应的模拟,并将计算对象扩展到屏蔽多导体电缆。

  • 标签: 有限元方法 辐射感应电导率 间隙 屏蔽电缆 X射线
  • 简介:目前有机气体污染物的净化方法主要存在控制难度大、能耗高、要求气体纯度高等缺点,尚需开发新技术。在挥发性有机化合物中,甲苯是很具代表性的物质,也是被美国ASHRAE推荐为测试气体过滤净化设备性能的模型化合物。国内利用电子束辐照处理甲苯气体的文献很少。文中对甲苯有机废气进行静态实验,初步研究了电子束辐照处理芳香类有机物甲苯的效果,分析了辐照分解产物。

  • 标签: 辐照处理 静态实验 电子束 甲苯 挥发性有机化合物 气体污染物
  • 简介:利用4.5MeV的氪离子(Kr^17+)辐照(100)晶向本征未掺杂和高掺锌(P型)、(100)和(110)混合晶向的高掺硅(N型)砷化镓(GaAs)半导体材料,辐照注量为1×10^12~3×10^14cm^-2,测试辐照后材料的拉曼光谱。随着辐照注量增大,材料的纵向光学(longitudinaloptical,LO)声子峰向低频方向移动,出现了明显的非对称展宽,并且N型样品辐照后,晶体结构损伤要大于P型与本征未掺杂样品。3种类型样品的LO峰频移随辐照损伤的变化趋势一致,研究表明,掺杂元素不影响材料本身的晶体结构,可能是因为混合晶向的生长方式导致辐照后N型GaAs结构稳定性变差。

  • 标签: GAAS 拉曼光谱 辐照效应 晶体结构
  • 简介:TG115.28196021311射线探伤最新国际标准简评=Adiscussiononrecentinternationalstandardsforradiographicexamination[刊,中]/李衍(无锡锅炉厂)∥无损检测。—1995,17(11)。—515—316,322对欧洲标准化委员会最近提出的一个射线探伤新标准提出一些看法,竞在结合国情与国际标准接轨时提供借鉴。图1表5参4(吴淑珍)TL816.196021312X射线二极管的灵敏度标定和应用=Calibrationof

  • 标签: 射线探伤 无损检测 二极管 新标准 国际标准接轨 灵敏度标定
  • 简介:关于X光折射率小于1的讨论=AdiscussionontherefractiveindexofX—raylessthan1[刊,中]/谭业武(滨州师范专科学校物理系)∥大学物理.—1994.13(11).—22—23,21从几个不同的方面讨论了X光的折射率,并通过

  • 标签: 光折射率 大学物理 师范专科学校 物理系 滨州 射线
  • 简介:依据工作原理,比较了掠出射X射线荧光分析技术(GEXRF)和掠人射X射线荧光分析技术(Gl一XRF)的优缺点,比较角度包括实验装置、探测限、可探测元素范围、基体效应以及实验精度。比较结果表明,GEXRF的优点体现为:对实验装置要求低,对轻元素(4

  • 标签: 分析技术 实验装置 实验精度 射线 工作原理 基体效应
  • 简介:为优化激光辐照带壳炸药热点火实验设计,探索点火规律,结合激光辐照带壳炸药PBXN-109热点火实验,建立了非线性热传导有限元模型。在分析炸药热响应及金属-炸药接触热阻对热点火过程影响规律的基础上,提出了金属-激光能量耦合系数及金属-炸药接触热阻的确定方法。结果表明:炸药热响应及金属-炸药接触热阻对炸药层温度影响较大,对金属层温度几乎没有影响。在此基础上,结合实测数据,用试错法给出了金属-激光能量耦合系数和金属-炸药接触热阻的取值,建立了激光辐照带壳炸药数值计算模型。

  • 标签: 热点火 带壳炸药 激光能量耦合系数 接触热阻
  • 简介:利用温度场计算结果,计算了激光辐照下金属铁氧化膜厚度的增长及氧化放热;利用多层膜反射理论,结合氧化膜厚度,分析了氧化膜导致的激光吸收增强效应.结果表明,波长为1.035μm激光在功率密度为2kW·cm-2辐照期间,氧化放热对温度场的贡献很小,对工程应用来说可以忽略,而氧化膜带来的吸收增强效应影响较大,不能忽略.

  • 标签: 氧化 氧化放热 多层膜反射 激光耦合系数
  • 简介:ZN-1阻尼材料是以丁基橡胶为基与酚醛树脂共混而成的粘弹性阻尼材料,具有损耗系数高、使用温度区域宽、转变峰的峰值温度在室温附近、抗老化性能优异等特点,在阻尼夹层结构中有着广泛的应用。

  • 标签: ZN-1阻尼材料 辐照实验 辐射降解反应 损耗系数
  • 简介:激光辐照均匀性研究是激光聚变研究的一个重要问题。影响激光辐照均匀性的因素有多种。激光束的空间配置是影响激光辐照均匀性的因素之一。从激光装置的光路设计方面考虑,提出这样一个问题:在对靶球照射的对称配置的八束光中,如果其中4束光旋转45°,对靶球辐照均匀性有何影响?

  • 标签: 激光束 辐照均匀性 激光聚变 空间配置 靶球照射
  • 简介:利用蒙特卡洛方法分析了不同束流密度0.8MeV电子辐照下介电材料导电性能的变化趋势,同时开展了0.8MeV电子辐照下聚酰亚胺(Kapton)材料导电性能实验研究.理论和实验结果表明,在0.8MeV电子辐照后,Kapton材料导电性能在不同吸收剂量率下变化较大,电导率最大可上升5个量级,电阻由1014Ω变为1012Ω,下降2个量级.

  • 标签: 介电材料 高能电子辐照 电导率 剂量率
  • 简介:对国产科学级4T-CMOS图像传感器进行电子辐照实验,考察了暗电流、饱和输出灰度值、暗信号非均匀性等参数,分析了器件的电子辐照效应损伤机理。实验结果显示,随着辐照总吸收剂量的增加,器件的饱和输出灰度值下降,并且暗电流显著增加。分析认为,器件的饱和输出灰度值退化机制与电离总剂量效应引起的退化物理机理一致,辐照使转移栅沟道电势势垒下降是饱和输出灰度值下降的主要原因,而暗电流的增长主要由浅槽隔离界面缺陷和体缺陷造成。10MeV电子辐照后暗电流退化表现出一定的偏置效应,这是由10MeV电子辐照引起的位移损伤所致。

  • 标签: CMOS图像传感器 暗电流 饱和输出 暗信号非均匀性
  • 简介:文章介绍了用光学信息论的熵方法,在固定条件下,通过定量计算同一被摄物,在散乱射线不同的情况下,x射线照相底片的信息量。而有效地评价散乱射线对底片象质影响。

  • 标签: 信息熵 X射线
  • 简介:激光焊接是利用激光熔化母材本身金属来填充焊缝,因此激光焊缝表面没有余高,并有少许凹陷,由于构件结构的特殊性,有关技术要求焊缝的焊接深度仅为16mm,焊缝宽度不得大于6mm,而实际上焊缝区域的母材厚度约为6-12.5mm变化,焊缝尺寸相对于母材厚度很小,造成焊缝在底片上形成的影像不明显。简体内部密封并以其他材料填充,在进行射线检测时射线不可能采取双壁单影法透照对焊缝实施检测,只能采用单壁单影的透照方法。另外,靠近简体内侧加工有工艺弧度,在射线透射方向上母材厚度有很大变化,

  • 标签: 激光焊接 焊缝射线检测 母材厚度 单壁单影
  • 简介:某产品的焊接须预热到300℃后进行,焊后采用自然冷却,再进行X射线照相检测。传统的射线照相检测过程费时费力,一定程度制约了产品生产进度。如能在焊接现场进行实时的射线检测,则可及时发现焊接中的缺陷并进行相应的处理,免除了冷却、送检、返修、再预热及胶片处理等时间,从而大大提高生产效率。文中对射线检测的数字化技术应用的不同方式(CR、DR)进行了对比分析,认为采用DR技术(射线扫描探测器)可有望提高检测的效率。

  • 标签: 射线检测 技术应用 焊接 现场 射线照相检测 自然冷却
  • 简介:底片是射线检测的评判依据,但是容易受到环境的影响而发生变化(发霉、污损);生产中大量的底片也不便管理和查阅。将底片数字化,可以实现无失真存储,稳定性高,更便于交流和分析,利用数字图像处理技术可对缺陷进行定量分析。

  • 标签: 射线底片 定量技术 缺陷 数字图像处理技术 射线检测 发生变化
  • 简介:O434.2//TN232001021486紫外线技术在军事上的应用研究=Studyofapplicationofultravioletteehnolgoytomilitaryaffairs[刊,中]/张忠廉,刘榴娣(北京理工大学光电工程系.北京(100081))//光学技术.-2000,26(4).-289-293,296介绍了紫外线在军事上的应用和紫外波段光电探测器件的发展情况以及国内外紫外技术在军事上应用概况,提出了在军事应用方面如何对紫外线技术作进一步研究的建议。(李瑞琴)

  • 标签: 紫外线技术 发展情况 光学技术 光电工程 光电探测器件 应用研究
  • 简介:应用于高能闪光X光照相技术的X射线源主要是强流电子束与重金属靶相互作用产生的韧致辐射,一般应用电子直线感应加速器(LIA)产生强流电子束,电子束被聚焦到一个很小的焦斑后打靶。进行闪光照相时,X射线斑点大小是一关键参量,直接影响成像的分辨能力。由于高能X射线的强穿透能力和强辐射环境,传统的小孔成像法难以应用。

  • 标签: X射线源 斑点 强流电子束 直线感应加速器 高能X射线 测量