简介：着重介绍了利用耦合谐振环法测量微带基片介电常数和损耗角正切的技术,并通过软件仿真及实物测量验证了该方法的正确性及测量精确度。在1～12GHz频率范围内,介电常数测量不确定度为±3%,损耗角正切测量不确定度为±30%。该方法的测量电路易于制备,对测量环境要求较低,可用于普通的实验室测试。
简介：对于有限温度下复Φ^6场严格证明了不同温度下其超势在微超空间中的等势线可以相交（4个或2个交点），也可以不相交。
用耦合谐振环法测量微带基片的介质特性
有限温度下复Φ~6场的超势在微超空间中等势线的相交性问题
