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线性区工作模式下沟道中的载流子迁移率和温度梯度如何影响功率MOSFET的温度系数(TC):理论研究、测试和仿真
线性区工作模式下沟道中的载流子迁移率和温度梯度如何影响功率MOSFET的温度系数(TC):理论研究、测试和仿真
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摘要
本文研究了MOSFET反型层中载流子的迁移率以及迁移率如何影响温度系数(TC)。迁移率模型中考虑了在反型层中所有的散射机构。本研究对TC进行了新的考虑,并用一个实例验证了提出的模型。
DOI
zdl10eom4l/588740
作者
张彦飞(译);游雪兰(译);吴郁(译)
机构地区
不详
出处
《电力电子》
2008年1期
关键词
功率MOSFET
载流子迁移率
温度系数
温度梯度
TC
线性区
分类
[电子电信][电路与系统]
出版日期
2008年01月11日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
电力电子
2008年1期
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TC
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