线性区工作模式下沟道中的载流子迁移率和温度梯度如何影响功率MOSFET的温度系数(TC):理论研究、测试和仿真

在线阅读 下载PDF 导出详情
摘要 本文研究了MOSFET反型层中载流子的迁移率以及迁移率如何影响温度系数(TC)。迁移率模型中考虑了在反型层中所有的散射机构。本研究对TC进行了新的考虑,并用一个实例验证了提出的模型。
机构地区 不详
出处 《电力电子》 2008年1期
出版日期 2008年01月11日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
  • 相关文献