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基于电子元器件低频噪声特性及相关测试技术应用体现

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摘要摘要：在电子元器件研发创新的过程中，科研人员根据其所表现出的低频噪声特性，在相关测试中提出了一种优化改进后的低频噪声测量方法。通过改善设计测试系统，扩大了噪声测试的部分噪声，不仅能直观验证电子元器件的应用质量，而且可以保障电子元器件的应用质量安全。本文研究主要从电子元器件的应用情况入手，对其所表现出的低频噪声特性和有关测试技术进行简单介绍。

DOI g4qr5nn7j8/5352300

作者冯飞扬

机构地区北京交通大学，北京 100044

出处《科学与技术》 2021年9期

关键词电子元器件低频噪声测试技术

分类 [建筑科学][建筑技术科学]

出版日期 2021年07月16日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）