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《北京同步辐射装置年报》
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1998年1期
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用全电子产额技术测量薄膜材料的XAFS谱
用全电子产额技术测量薄膜材料的XAFS谱
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DOI
34gevwmoj9/1407207
作者
刘涛;胡天斗;等
机构地区
不详
出处
《北京同步辐射装置年报》
1998年1期
关键词
全电子产额技术
测量
薄膜材料
XAFS谱
分类
[核科学技术][核技术及应用]
出版日期
1998年01月11日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
北京同步辐射装置年报
1998年1期
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