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《通信与电子测试》
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2001年3期
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SMT测试技术综述
SMT测试技术综述
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摘要
主要介绍了当前用于检测组装后PCB的缺陷和故障的一些常见测试技术,并对未来的发展趋势进行了初步探讨。
DOI
wjvxxx8647/1385002
作者
鲜飞
机构地区
不详
出处
《通信与电子测试》
2001年3期
关键词
SMT
测试
微电子
分类
[电子电信][物理电子学]
出版日期
2001年03月13日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
通信与电子测试
2001年3期
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