首页 > 《失效分析与预防》 > 2010年2期 > SEM/EDX和FTIR在手机电触点失效分析方面的应用

SEM/EDX和FTIR在手机电触点失效分析方面的应用

在线阅读下载PDF 导出详情

摘要总结了SEM/EDX和FTIR在手机电触点失效分析中的几个典型案例,发现大量失效产品中的镀金触点因表面污染和氧化引起的接触电阻升高是造成电接触故障的主要原因。污染物形貌和成分复杂,通过与手机生产和使用中常见污染源的红外图谱和EDX图谱进行对比,SEM/EDX和FTIR能鉴别出大多数污染物,比如印刷线路板在切板过程中引起的碎屑、手指接触污染、灰尘聚集污染以及工艺带入的粘胶污染等,促进了工艺的改进和生产效率的提高。

DOI rj8y62lp40/937910

作者刘平;刘建勇;姚琲

机构地区不详

出处《失效分析与预防》 2010年2期

关键词 SEM/EDX FTIR 电触点污染物失效分析

分类 [金属学及工艺][金属材料]

出版日期 2010年02月12日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）