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基于同位素稀释的锂同位素质谱测定技术

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摘要锂作为最轻的金属元素，在地质学、天体物理学和核工业等领域，得到了广泛的应用，这些应用都要求对锂同位素丰度进行准确测定。测定锂同位素丰度常用的方法为热表面电离质谱法，但是测量存在系统偏差，需要校正，目前所用的校正方法有标准校正法和校准质谱法。

DOI 7dmo66nljn/678054

作者魏兴俭;邓大超;刘勇

机构地区不详

出处《中国工程物理研究院科技年报》 2008年1期

关键词测定技术同位素质谱同位素稀释同位素丰度校准质谱法锂

分类 [理学][物理]

出版日期 2008年01月11日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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测定技术同位素质谱同位素稀释同位素丰度校准质谱法锂

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